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X射线光谱分析过程中如何选择测试条件

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X射线光谱分析过程中如何选择测试条件

发布日期:2020-03-13 作者: 点击:

  选择测试条件是光谱分析过程中复杂关键的部分。 适当的测试条件意味着能够测量元素的PPM水平。为了达到佳的分析测试条件,须遵循两个基本原则:X射线源须在被测元素的吸收峰上方有一个明显的峰。  K线或L线的选择取决于仪器的测量范围。 通常,更常用K线测量。X射线源的峰越接近待测元素的吸收峰,测试的强度和灵敏度(数值/秒/ PPM)越高。理想情况下,辐射源应与要测量的元素的吸收峰一致,但这很难实现。另一个基本原理是在要测量的元素区域中小化X射线的背景噪声。 

  但是,这两个原则相互矛盾。 通常,X射线探伤在高背景噪音时会达到高灵敏度,而在低背景噪音时则灵敏度差。 此外,当灵敏度高时,也可以达到佳的理论检测极限;而当背景噪声低时,净计数率提取,矩阵校正和长期稳定性分析则好。 因此,佳分析结果是在考虑仪器硬件的情况下,找到这两个原理之间的佳平衡。  

X射线探伤

  X射线管发射的spectrum致辐射的光谱范围从0到n千伏,其中n是射线管的工作电压。  X射线管还会发射目标的特征光谱线,因此如何选择目标是要看它是否能够大程度地激发待测元素。 由于X射线的强度通常与目标元素的原子序数成正比,因此钨靶通常具有高的强度。 目标可以是任何高熔点金属,目标的选择通常包括Sc,Ti,Cr,Fe,Co,Ni,Co,Y,Zr,Mo,Rh,Pd,Ag,W和Pt。 

  具有多个目标的X射线管已应用于光谱仪。 操作员可以为要测量的不同元素选择不同的目标。 选择原则是目标的特征线能量高于待测元素的吸收极限,并且至少是检测器分辨率的半角宽度的2-3倍。如果没有靶满足上述要求,则可以选择高原子序数以获得大的X射线通量。

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关键词:X射线光谱分析探伤

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