X射线光谱分析过程中如何选择测试条件

发布日期：2020-03-13 作者：点击：

　　选择测试条件是光谱分析过程中复杂关键的部分。适当的测试条件意味着能够测量元素的PPM水平。为了达到佳的分析测试条件，须遵循两个基本原则：X射线源须在被测元素的吸收峰上方有一个明显的峰。 K线或L线的选择取决于仪器的测量范围。通常，更常用K线测量。X射线源的峰越接近待测元素的吸收峰，测试的强度和灵敏度（数值/秒/ PPM）越高。理想情况下，辐射源应与要测量的元素的吸收峰一致，但这很难实现。另一个基本原理是在要测量的元素区域中小化X射线的背景噪声。

　　但是，这两个原则相互矛盾。通常，X射线探伤在高背景噪音时会达到高灵敏度，而在低背景噪音时则灵敏度差。此外，当灵敏度高时，也可以达到佳的理论检测极限；而当背景噪声低时，净计数率提取，矩阵校正和长期稳定性分析则好。因此，佳分析结果是在考虑仪器硬件的情况下，找到这两个原理之间的佳平衡。

X射线探伤

　　X射线管发射的spectrum致辐射的光谱范围从0到n千伏，其中n是射线管的工作电压。 X射线管还会发射目标的特征光谱线，因此如何选择目标是要看它是否能够大程度地激发待测元素。由于X射线的强度通常与目标元素的原子序数成正比，因此钨靶通常具有高的强度。目标可以是任何高熔点金属，目标的选择通常包括Sc，Ti，Cr，Fe，Co，Ni，Co，Y，Zr，Mo，Rh，Pd，Ag，W和Pt。

　　具有多个目标的X射线管已应用于光谱仪。操作员可以为要测量的不同元素选择不同的目标。选择原则是目标的特征线能量高于待测元素的吸收极限，并且至少是检测器分辨率的半角宽度的2-3倍。如果没有靶满足上述要求，则可以选择高原子序数以获得大的X射线通量。

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